Год выпуска: 1979 Автор: Б. К. Вайнштейн Издательство: Наука Формат: DjVu Качество: Сканированные страницы Количество страниц: 1200 Описание: В первом томе "Современной кристаллографии" дана общая характеристика кристаллического вещества, рассмотрена теоретическая основа кристаллографии - учение о симметрии, изложены методы исследования структуры кристаллов. Второй том "Современной кристаллографии" посвящен строению кристаллов - их атомной, электронной и реальной микроскопической структуре. В третьем томе "Современной кристаллографии" систематически изложены современные представления о механизме зарождения и роста кристаллов. Отражены как теоретические, так и экспериментальные аспекты проблемы. В четвертом томе "Современной кристаллографии" изложены физические свойства кристаллов, причем рассмотрение их ведется с точки зрения кристаллофизики, что отличает это рассмотрение от традиционного подхода к физическим свойствам кристаллов на основе физики твердого тела. Основное внимание обращено на анизотропию свойств кристаллов, их связь с точечной и пространственной симметрией, с атомной и реальной структурой кристаллов. Описание физических свойств кристаллов ведется с помощью тензорного аппарата кристаллофизики.
